内容发布更新时间 : 2024/6/16 20:33:49星期一 下面是文章的全部内容请认真阅读。

TD-LTE基站射频测试操作说明

第一部分 TX测试

一、TX测试连接图

RRH衰减器频谱分析仪TriggerBBUReference

Note: 衰减为输出功率2.5倍以上，此处选择30dB。

10MH 参考线时钟线reference接BBU针孔 ，10毫秒trigger接B板最右边网口。

二、仪表等附件内容

频谱分析仪(Agilent MXA Signal Analyzer N9020A,10Hz~13.6GHz), 30dB衰减，System DC Power 7Supply (Agilent N5747A/60V/12.5A/750W)，VGA信号源。

LTE NEM，Secure CRT。

三、NEM操作系统配置

四、频谱仪选键设置

Step 1. 选择LTE模式，Press Mode, LTE TDD. Step 2. 频点设置 FREQ Channel

Step 3. 频点补偿设置 Input/Output, External Gain, BTS

Step 4. 下行模式设置Mode Setup, Radio, Direction to be Downlink.

Step 5. 链路配置设Mode Setup, Radio, ULDLAlloc, Config 3；DW/GP/Up Len, More, Config 8. Step 6. 时间门限设置 Sweep/control, Gate, Gate Delay=5ms, Gate Length=6.8ms Step 7. 带宽设置 Mode setup, Prest To Standard=10/20MHz Step 8. 触发方式设置 Trigger, External 1/2

配置完后频谱分析仪显示如下：

五、下行发射项测试操作步骤

1. 输出功率Output Power

测试项选择 Meas---Channel power 测试模式 E-TM1.1

Note: 查看Channel Power值，(10W标准值40dBm)。

测试结果：在正常测试环境下，测量出的基站最大输出功率应在制造商给出的基站额定输出功率

的+2.7 dB 和 –2.7 dB范围内。